![\"\"](\"https:\/\/i0.wp.com\/visiotronix.com\/wp-content\/uploads\/2024\/12\/banner_supporto_tecnico_1200x250-1024x213-1.webp?resize=1022%2C213&ssl=1\")
<\/span>M\u00f6chten Sie Hilfe bei der Auswahl des Produkts?<\/strong><\/p>\n\n\n\n Bei herk\u00f6mmlicher Frontbeleuchtung (Hellfeld) verringert ein kleiner Kratzer auf einer glatten Oberfl\u00e4che das lokale Reflexionsverm\u00f6gen um einen geringen Prozentsatz. Der Signalunterschied zwischen dem verkratzten Bereich und der umgebenden glatten Oberfl\u00e4che betr\u00e4gt im Kamerabild m\u00f6glicherweise nur wenige Graustufen. Um dies mit einem Algorithmus der Bildverarbeitung zuverl\u00e4ssig zu erkennen, sind ein sehr hohes Signal-Rausch-Verh\u00e4ltnis sowie eine sorgf\u00e4ltige Schwellenwertwahl erforderlich. <\/p>\n\n Unter Dunkelfeldbeleuchtung erscheint derselbe Kratzer als helles Merkmal vor einem vollst\u00e4ndig dunklen Hintergrund. Das Signal-Hintergrund-Verh\u00e4ltnis ist sehr hoch, und der Grauwert des Kratzers kann um ein Vielfaches \u00fcber dem Grauwert des glatten Hintergrunds liegen. Dies gew\u00e4hrleistet eine robuste Schwellenwertwahl und eine sehr hohe Erkennungszuverl\u00e4ssigkeit, selbst bei sehr feinen oder flachen Defekten, die mit keiner Hellfeldtechnik erkennbar w\u00e4ren. <\/p>\n\n Die Dunkelfeldbeleuchtung verbessert zudem die Sichtbarkeit erhabener Oberfl\u00e4chenmerkmale durch Schattenbildung. Wenn das Licht in einem sehr flachen Winkel einf\u00e4llt, wirft jedes erhabene Merkmal einen Schatten, der weit l\u00e4nger ist als die H\u00f6he des Merkmals. Eine 10 Mikrometer hohe Erhebung, die in einem Winkel von 10\u00b0 zur Horizontalen beleuchtet wird, wirft einen Schatten von etwa 57 Mikrometern L\u00e4nge. Durch diese Schattenvergr\u00f6\u00dferung lassen sich selbst sehr kleine erhabene Strukturen leicht erkennen und vermessen. <\/p>\n\n Diese Schattenverst\u00e4rkung findet unter anderem in folgenden Anwendungsbereichen Verwendung: Erkennung von Graten an bearbeiteten Kanten, \u00dcberpr\u00fcfung von Pr\u00e4ge- oder Vertiefungsmustern auf Verpackungen, Erkennung von Verunreinigungen auf Oberfl\u00e4chen sowie die Messung von Oberfl\u00e4chenrauheitsprofilen. Die Schattenl\u00e4nge steht in direktem Zusammenhang mit der H\u00f6he des Merkmals und dem Beleuchtungswinkel, was eine quantitative H\u00f6hensch\u00e4tzung anhand der Schattenmessung erm\u00f6glicht. <\/p>\n\n Die Dunkelfeldbeleuchtung ist besonders effektiv auf glatten oder polierten Oberfl\u00e4chen, bei denen die Hintergrundreflexion hoch ist und die Defekte eine lokale Lichtstreuung verursachen. Auf rauen oder matten Oberfl\u00e4chen ist diese Technik weniger aussagekr\u00e4ftig, da der Hintergrund dort das Licht auch in defektfreien Bereichen streut, wodurch sich der Kontrast zwischen defekten und defektfreien Bereichen verringert. <\/p>\n\n Polierte und bearbeitete Metalloberfl\u00e4chen geh\u00f6ren zu den h\u00e4ufigsten Anwendungsbereichen der Dunkelfeldbeleuchtung. Kratzer durch Handhabung, Werkzeugspuren aus der Bearbeitung, Mikrorisse aus der Umformung oder W\u00e4rmebehandlung sowie Oberfl\u00e4chenpartikel aus dem Fertigungsprozess lassen sich unter Dunkelfeldbeleuchtung kontrastreich erkennen. Die Technik dient der 100-prozentigen Inline-Pr\u00fcfung von gedrehten Bauteilen, geschliffenen Oberfl\u00e4chen, Stanzteilen und pr\u00e4zisionsgefertigten Bauteilen in der Automobilindustrie, der Luft- und Raumfahrt sowie im allgemeinen Maschinenbau. <\/p>\n\n Glasoberfl\u00e4chen sind stark spiegelnd. Bei Hellfeldbeleuchtung k\u00f6nnen Defekte auf Glasoberfl\u00e4chen durch Reflexionen und Transmissionserscheinungen \u00fcberdeckt werden. Bei der Dunkelfeldbeleuchtung unter streifender Beleuchtung erscheinen Kratzer, Absplitterungen, Oberfl\u00e4chenpartikel und Beschichtungsfehler auf Glasoberfl\u00e4chen als helle Merkmale vor einem dunklen Hintergrund mit hohem Kontrast. Daher ist die Dunkelfeldtechnik die Standardmethode f\u00fcr die Glasinspektion, die Qualit\u00e4tskontrolle optischer Elemente und die Inspektion von Glasverpackungen. <\/p>\n\n Spritzgussteile aus Kunststoff mit gl\u00e4nzenden oder seidenmatten Oberfl\u00e4chen, beschichtete Bauteile sowie Folienoberfl\u00e4chen k\u00f6nnen alle mit Dunkelfeldbeleuchtung gepr\u00fcft werden. Dieses Verfahren eignet sich gut zum Erkennen von Flie\u00dflinien, Einfallstellen, Oberfl\u00e4chenverunreinigungen und Unebenheiten in der Beschichtung von Kunststoffteilen. Die Wellenl\u00e4nge der Beleuchtung sollte entsprechend den Reflexionseigenschaften des Kunststoffs oder des Beschichtungsmaterials gew\u00e4hlt werden. <\/p>\n\n Die Waferinspektion geh\u00f6rt zu den anspruchsvollsten Anwendungen im Dunkelfeldbereich. Die Waferoberfl\u00e4chen m\u00fcssen bis hin zu Abmessungen im Submikrometerbereich vollst\u00e4ndig frei von Partikeln, Kratzern und Oberfl\u00e4chenfehlern sein. Die Dunkelfeldbeleuchtung bei sehr flachen Einfallswinkeln in Verbindung mit hoher Aufl\u00f6sung und empfindlichen Kameras erm\u00f6glicht die Erkennung von Fehlern, die andernfalls unsichtbar w\u00e4ren. \u00c4hnliche Anforderungen gelten f\u00fcr die Inspektion von unbest\u00fcckten Leiterplattenoberfl\u00e4chen, Keramiksubstraten und pr\u00e4zisen elektronischen Bauteilen. <\/p>\n\n Der Beleuchtungswinkel ist bei Dunkelfeldanwendungen der wichtigste Konstruktionsparameter. Er bestimmt den Kontrast des glatten Hintergrunds, die Schattenvergr\u00f6\u00dferung erhabener Strukturen sowie die Empfindlichkeit gegen\u00fcber verschiedenen Defektarten. Der optimale Winkel h\u00e4ngt von den Oberfl\u00e4cheneigenschaften des Objekts und der Art der zu erkennenden Defekte ab. <\/p>\n\n Sehr kleine Beleuchtungswinkel (5\u00b0 bis 10\u00b0 zur Horizontalen) sorgen auf glatten, spiegelnden Oberfl\u00e4chen f\u00fcr die h\u00f6chste Schattenvergr\u00f6\u00dferung und den dunkelsten Hintergrund. Sie dienen der Erkennung sehr oberfl\u00e4chlicher Fehler wie feiner Kratzer, Mikrorisse und Schwankungen der Oberfl\u00e4chenrauheit auf hochglanzpolierten Oberfl\u00e4chen. Der Arbeitsabstand zwischen der Beleuchtungseinheit und der Objektoberfl\u00e4che ist bei diesen Winkeln in der Regel gering, was bei der mechanischen Konstruktion der Pr\u00fcfzelle ber\u00fccksichtigt werden muss. <\/p>\n\n M\u00e4\u00dfig flache Einfallswinkel (15\u00b0 bis 25\u00b0) schaffen ein Gleichgewicht zwischen Hintergrunddunkelheit und Schattenl\u00e4nge. Sie eignen sich gut zum Erkennen von Oberfl\u00e4chenpartikeln, hervorstehenden Graten, Gravuren und Abweichungen in der Oberfl\u00e4chenstruktur auf bearbeiteten oder halbpolierten Oberfl\u00e4chen. Dieser Winkelbereich wird in der allgemeinen industriellen Pr\u00fcfung am h\u00e4ufigsten verwendet und bietet einen guten Kontrast \u00fcber ein breites Spektrum an Oberfl\u00e4chenbeschaffenheiten hinweg, ohne die engen mechanischen Einschr\u00e4nkungen sehr flacher Winkel. <\/p>\n\n Eine Flachwinkel-Ringbeleuchtung sorgt f\u00fcr eine Dunkelfeldbeleuchtung aus allen azimutalen Richtungen gleichzeitig. Dadurch wird sichergestellt, dass Kratzer und lineare Merkmale in beliebiger Ausrichtung auf der Oberfl\u00e4che gleicherma\u00dfen erfasst werden. Ein Kratzer, der parallel zur Richtung eines unidirektionalen Dunkelfeldstrahls verl\u00e4uft, streut m\u00f6glicherweise nur wenig Licht und k\u00f6nnte daher \u00fcbersehen werden. Eine Ringgeometrie beseitigt diese Richtungsabh\u00e4ngigkeit. <\/p>\n\n Die Beleuchtungseinheiten der RODER Vision DC-Serie mit flachem Einfallswinkel wurden speziell f\u00fcr die Dunkelfeld-Oberfl\u00e4chenpr\u00fcfung entwickelt. Die Ringgeometrie sorgt f\u00fcr eine omnidirektionale Beleuchtung mit flachem Einfallswinkel, und es stehen verschiedene Beleuchtungswinkel zur Verf\u00fcgung, um unterschiedlichen Oberfl\u00e4chenbeschaffenheiten und Fehlerarten gerecht zu werden. <\/p>\n\n Dunkelfeldbeleuchtungssysteme erfordern eine sorgf\u00e4ltige mechanische und optische Auslegung, um zuverl\u00e4ssige und wiederholbare Pr\u00fcfergebnisse zu erzielen. Die folgenden Richtlinien behandeln die wichtigsten Aspekte, die bei der Integration zu beachten sind. <\/p>\n\n Die Leistung der Dunkelfeldbeleuchtung h\u00e4ngt stark von der Ebenheit und der Ausrichtung der Objektoberfl\u00e4che ab. Eine geneigte oder verzogene Oberfl\u00e4che ver\u00e4ndert den effektiven Beleuchtungswinkel \u00fcber das gesamte Sichtfeld hinweg. Dies kann dazu f\u00fchren, dass der Hintergrund ungleichm\u00e4\u00dfig erscheint, wobei einige Bereiche dunkler sind und andere unerw\u00fcnschte Reflexionen aufweisen. Objektpositionierungsvorrichtungen sollten das Teil flach und in einer gleichbleibenden H\u00f6he relativ zur Beleuchtungseinheit halten. H\u00f6henabweichungen von mehr als 1 bis 2 mm k\u00f6nnen den Kontrast bei Konfigurationen mit flachem Einfallswinkel der Dunkelfeldbeleuchtung beeintr\u00e4chtigen. <\/p>\n\n Dunkelfeld-Pr\u00fcfzellen reagieren besonders empfindlich auf St\u00f6rungen durch Umgebungslicht. Der dunkle Hintergrund, der das Dunkelfeldverfahren so effektiv macht, l\u00e4sst sich nur erzielen, wenn kein Streulicht aus anderen Richtungen auf die Oberfl\u00e4che f\u00e4llt. Schon eine geringe Menge an von oben einfallendem Umgebungslicht auf der Objektoberfl\u00e4che hellt den Hintergrund auf und verringert den Kontrast der Oberfl\u00e4chenfehler. Dunkelfeld-Pr\u00fcfzellen sollten gekapselt oder abgeschirmt sein, um Umgebungslicht auszuschlie\u00dfen. Der Stroboskopbetrieb mit kurzen Belichtungszeiten sorgt f\u00fcr eine zus\u00e4tzliche Unterdr\u00fcckung von Umgebungslicht aus Fabrikquellen. <\/p>\n\n Da der Hintergrund in einem Dunkelfeldbild sehr dunkel ist, muss die Belichtung der Kamera so eingestellt werden, dass die Fehlersignale sichtbar werden, ohne dass sie \u00fcbersteuert werden. Die optimale Belichtung sorgt f\u00fcr ein Gleichgewicht zwischen der Helligkeit der Fehlersignale und dem Grundrauschen des Kamerasensors. Die Stroboskop-Beleuchtung mit hoher Spitzenintensit\u00e4t erm\u00f6glicht sehr kurze Belichtungszeiten, wodurch Bewegungsunsch\u00e4rfe bei sich bewegenden Objekten vermieden und gleichzeitig die Umgebungslichtunterdr\u00fcckung verbessert wird. <\/p>\n\n Die Beleuchtungseinheiten der Serien RODER Vision DL5 und DC6 unterst\u00fctzen den Stroboskopbetrieb mit Spitzenintensit\u00e4ten, die um ein Vielfaches h\u00f6her sind als die Werte im Dauerbetrieb. Diese Kombination aus kurzer Belichtungszeit und hoher Spitzenintensit\u00e4t ist der Standardansatz f\u00fcr die Hochgeschwindigkeits-Dunkelfeldinspektion in Fertigungslinien. <\/p>\n\n Die nachstehend aufgef\u00fchrten Produktfamilien von Roder Vision eignen sich f\u00fcr die Dunkelfeld-Oberfl\u00e4chenpr\u00fcfung bei einer Vielzahl von Oberfl\u00e4chenarten, Objektgr\u00f6\u00dfen und Liniengeschwindigkeiten.<\/p>\n\n Allrichtungs-Ringbeleuchtung mit flachem Einfallswinkel f\u00fcr die Dunkelfeld-Oberfl\u00e4chenpr\u00fcfung. Erkennt Kratzer unabh\u00e4ngig von ihrer Ausrichtung. Mehrwellenl\u00e4ngenf\u00e4hig. Stroboskopkompatibel. <\/p>\n<\/div>\n\n\n Sehr hohe Spitzenintensit\u00e4t im Stroboskopmodus. Ideal f\u00fcr gerichtetes Dunkelfeld unter definierten Winkeln. Hochgeschwindigkeitsf\u00f6rderbandinspektion mit kurzen Belichtungszeiten. <\/p>\n<\/div>\n\n\n Matrix mit hoher Dichte f\u00fcr gerichtetes Kleinwinkel-Dunkelfeld. Thermische Stabilit\u00e4t nach HTTM-Standard f\u00fcr den 24\/7-Betrieb. Mehrfach-Wellenl\u00e4ngen-Technologie f\u00fcr oberfl\u00e4chenspezifischen Kontrast. <\/p>\n<\/div>\n\n\n Eine Hintergrundbeleuchtung mit hoher Gleichm\u00e4\u00dfigkeit in Kombination mit einer Dunkelfeldbeleuchtung zur Dual-Mode-Fehlererkennung an transparenten und halbtransparenten Bauteilen.<\/p>\n<\/div>\n<\/div>\n\n Bei der Dunkelfeldbeleuchtung wird das Licht im Streulichtverfahren unter einem sehr flachen Winkel auf die Oberfl\u00e4che gerichtet. Die glatte Oberfl\u00e4che reflektiert das Licht von der Kamera weg und erscheint dunkel. Oberfl\u00e4chenmerkmale, die Licht streuen, wie beispielsweise Kratzer, Partikel und erhabene Kanten, erscheinen vor dem dunklen Hintergrund hell. Diese Umkehrung des Kontrasts im Vergleich zur Standardbeleuchtung macht feine Oberfl\u00e4chenfehler sichtbar, die andernfalls nicht erkennbar w\u00e4ren. <\/p><\/div> Die Dunkelfeldbeleuchtung eignet sich am besten zur Erkennung von Kratzern, Mikrorissen, Oberfl\u00e4chenpartikeln, hervorstehenden Graten, Gravurmarkierungen und Schwankungen der Oberfl\u00e4chenrauheit. Sie erzielt die besten Ergebnisse auf glatten oder polierten Oberfl\u00e4chen wie Metallen, Glas, hochglanzpolierten Kunststoffen und Halbleiterwafern. Auf rauen oder matten Oberfl\u00e4chen verringert die Hintergrundstreuung den Kontrast, wodurch die Dunkelfeldbeleuchtung an Wirksamkeit verliert. <\/p><\/div> Der optimale Winkel h\u00e4ngt von der Oberfl\u00e4che und der Art der Oberfl\u00e4chenfehler ab. Sehr flache Winkel (5 bis 10 Grad zur Horizontalen) maximieren die Schattenvergr\u00f6\u00dferung und die Dunkelheit des Hintergrunds bei polierten Oberfl\u00e4chen mit sehr feinen Oberfl\u00e4chenfehlern. M\u00e4\u00dfig flache Winkel (15 bis 25 Grad) sind f\u00fcr die allgemeine industrielle Pr\u00fcfung praktischer und eignen sich gut f\u00fcr ein breiteres Spektrum an Oberfl\u00e4chenbeschaffenheiten. Eine Ringbeleuchtungseinheit im richtigen Winkel erm\u00f6glicht eine omnidirektionale Dunkelfeld-Erkennung, unabh\u00e4ngig von der Ausrichtung des Defekts. <\/p><\/div> Die Wirksamkeit der Dunkelfeldbeleuchtung h\u00e4ngt davon ab, dass der glatte Oberfl\u00e4chenhintergrund so dunkel wie m\u00f6glich ist. Jedes Umgebungslicht, das aus anderen Richtungen als der Dunkelfeldquelle auf die Oberfl\u00e4che trifft, hellt den Hintergrund auf und verringert den Kontrast des Fehlersignals. Selbst geringe Mengen an von oben einfallendem Umgebungslicht k\u00f6nnen die Erkennung merklich beeintr\u00e4chtigen. Dunkelfeld-Pr\u00fcfzellen sollten gekapselt sein, um Umgebungslicht auszuschlie\u00dfen, und der Stroboskopbetrieb mit kurzen Belichtungszeiten sorgt f\u00fcr eine weitere Unterdr\u00fcckung. <\/p><\/div> Ja. Die Dunkelfeldbeleuchtung wird h\u00e4ufig mit Hellfeld- oder Hintergrundbeleuchtung in Systemen kombiniert, die verschiedene Fehlerarten erkennen m\u00fcssen. Durch die sequenzielle Beleuchtung, bei der verschiedene Beleuchtungseinheiten nacheinander aktiviert werden, w\u00e4hrend die Kamera separate Aufnahmen macht, kann dieselbe Kamerastation sowohl ein Dunkelfeld-Oberfl\u00e4chenbild als auch ein Hellfeld- oder Hintergrundbild desselben Bauteils erfassen. Jedes Bild wird auf die f\u00fcr den jeweiligen Beleuchtungsmodus am besten geeigneten Fehlerarten analysiert. <\/p><\/div><\/div>\n\nWarum die Dunkelfeldmikroskopie bei der Erkennung feiner Defekte der Hellfeldmikroskopie \u00fcberlegen ist<\/h3>\n\n
Schattenverst\u00e4rkung f\u00fcr Oberfl\u00e4chenreliefs<\/h3>\n\n
2. Ideale Oberfl\u00e4chen und Oberfl\u00e4chenfehler f\u00fcr die Dunkelfeldinspektion<\/h2>\n\n
Metalloberfl\u00e4chen<\/h3>\n\n
Glas und optische Komponenten<\/h3>\n\n
Kunststoff- und beschichtete Oberfl\u00e4chen<\/h3>\n\n
Halbleiterwafer und elektronische Bauteile<\/h3>\n\n
3. Auswahl des Ausleuchtungswinkels<\/h2>\n\n
Sehr flache Winkel: 5\u00b0 bis 10\u00b0<\/h3>\n\n
M\u00e4\u00dfige, flache Winkel: 15\u00b0 bis 25\u00b0<\/h3>\n\n
Ring- und multidirektionale Dunkelfeldbeleuchtungseinheiten<\/h3>\n\n
4. Tipps zur Integration von Dunkelfeld-Inspektionssystemen<\/h2>\n\n
Ebenheit und Positionierung von Objekten<\/h3>\n\n
Umgebungslichtunterdr\u00fcckung<\/h3>\n\n
Kameraeinstellungen und Belichtungsoptimierung<\/h3>\n\n
Produkte und Technologien<\/h2>\n\n
RODER Vision-Beleuchtungseinheiten f\u00fcr die Dunkelfeldmikroskopie<\/h2>\n\n
![\"RODER](\"https:\/\/i0.wp.com\/visiotronix.com\/wp-content\/uploads\/2025\/10\/roder_vision_dc6_circular_direct_light_led_illuminators_350x350_masterimage_2000x2000.png?resize=2000%2C2000&ssl=1\")
<\/a><\/figure>\n\n\nDC6 \u2014 LED-Ringbeleuchtung mit hoher Dichte<\/a><\/h4>\n\n\n
![\"DL5-LED-Matrix](\"https:\/\/i0.wp.com\/visiotronix.com\/wp-content\/uploads\/2025\/06\/photolux_dl5_masterimage_300x300_1000x1000px.png?resize=1000%2C1000&ssl=1\")
<\/a><\/figure>\n\n\nDL5 – Hochintensit\u00e4ts-LED-Matrix<\/a><\/h4>\n\n\n
![\"Roder](\"https:\/\/i0.wp.com\/visiotronix.com\/wp-content\/uploads\/2025\/10\/roder_vision_DL6_direct_led_illuminators_200x200_masterimage_2000x2000.png?resize=2000%2C2000&ssl=1\")
<\/a><\/figure>\n\n\nDL6 – LED-Matrix mit hoher Packungsdichte<\/a><\/h4>\n\n\n
![\"BL3-Hintergrundbeleuchtung](\"https:\/\/i0.wp.com\/visiotronix.com\/wp-content\/uploads\/2025\/10\/roder_vision_BL3_backlight_led_illuminators_200x200_masterimage_2000x2000.png?resize=2000%2C2000&ssl=1\")
<\/a><\/figure>\n\n\nBL3 \u2014 LED Durchlicht-Serie<\/a><\/h4>\n\n\n
H\u00e4ufig gestellte Fragen<\/h2>\n\n